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全隔離協(xié)議轉(zhuǎn)換芯片
CSM330A(全隔離、國(guó)產(chǎn)化、高數(shù)據(jù)流量UART/SPI轉(zhuǎn)CAN芯片)

電源模塊外圍布局疏忽導(dǎo)致EMS測(cè)試失敗

保護(hù)電路主要還是取決于產(chǎn)品需要通過(guò)的測(cè)試等級(jí),對(duì)于環(huán)境較好的一般應(yīng)用,我們模塊本身的保護(hù)基本就可以滿足要求。

圖1 電源端雷擊浪涌測(cè)試圖

但對(duì)于一些環(huán)境復(fù)雜的工業(yè)應(yīng)用場(chǎng)合,諸如:電力行業(yè)、工業(yè)控制、軌道交通等行業(yè),一般要求EMS等級(jí)都在4級(jí)水平。此時(shí)一般需要外加一級(jí)保護(hù)電路配合電源模塊使用。推薦電路如下:

圖2 典型外圍應(yīng)用圖

上圖典型應(yīng)用應(yīng)該很多工程師都很熟悉,在原理圖設(shè)計(jì)時(shí)都不會(huì)有什么大問(wèn)題。往往問(wèn)題會(huì)出在PCB布局上,下面就來(lái)分享一個(gè)由于安全距離不夠,導(dǎo)致浪涌共模測(cè)試失效的案例。

案例問(wèn)題背景
  • 按上圖典型應(yīng)用設(shè)計(jì)外圍電路,大致元器件參數(shù)如下:
  • MOV1 使用型號(hào):471KD14;
  • Lcm使用25mH,UU9.8 類(lèi)型共模電感;
  • X2 電容,Cx:0.1uF/275VAC;
  • Y1 電容,Cy1,Cy2:2200pF/400VAC;

根據(jù)理論分析,此電路可以順利通過(guò)L/N對(duì)FG的2KV共模浪涌測(cè)試,但是在實(shí)際測(cè)試中發(fā)現(xiàn)經(jīng)過(guò)5~10次測(cè)試后,電源模塊出現(xiàn)損壞。

失效原因分析

經(jīng)過(guò)分析得知電源原因?yàn)閮?nèi)部的壓敏電阻損壞導(dǎo)致。進(jìn)行共模浪涌測(cè)試時(shí),出現(xiàn)L、N之間的壓敏電阻損壞,此現(xiàn)象非常奇怪。后續(xù)經(jīng)過(guò)多次測(cè)試,現(xiàn)象依然存在。所以可以排除器件差異及偶然因素導(dǎo)致。

下面我們就來(lái)分析一下,損壞壓敏的能量傳輸路徑。從原理設(shè)計(jì)上看是沒(méi)有問(wèn)題,另外一種情況就是耦合傳導(dǎo)路徑。經(jīng)過(guò)觀察分析,發(fā)現(xiàn)是由于電氣間隙不夠?qū)е?,測(cè)試?yán)擞繒r(shí)元器件放電導(dǎo)致模塊損壞。具體見(jiàn)下圖:

圖3 原理圖與實(shí)物圖對(duì)比

從上圖PCB可以看出,焊接金屬保險(xiǎn)絲底座后,導(dǎo)致兩者之間的距離變小。從而在浪涌測(cè)試時(shí),導(dǎo)致放電現(xiàn)象發(fā)生,最終損壞模塊內(nèi)部壓敏電阻。如在N對(duì)FG打浪涌時(shí),能量釋放路徑見(jiàn)下圖:

圖4 放電瞬間浪涌能量釋放路徑

根據(jù)分析結(jié)果,將兩則之間的距離拉大后,順利通過(guò)2KV、4KV等級(jí)的共模浪涌測(cè)試。本案例中的問(wèn)題極難被發(fā)現(xiàn),只有在平時(shí)設(shè)計(jì)時(shí)多注意交流側(cè)布板安全距離問(wèn)題,同時(shí)選用安全可靠的電源模塊,才能節(jié)約調(diào)試與測(cè)試時(shí)間,最終得到滿足設(shè)計(jì)要求的產(chǎn)品。

圖5 高性能AC-DC電源模塊